陈杰智，博士毕业于日本东京大学，曾在日本东芝研究开发中心任研究员（Research Scientist）。现为山东大学信息科学与工程学院教师。 主要从事纳米尺寸晶体管和非挥发型固态存储器可靠性物理机制的研究及其应用，其成果发表在了EDL，IEDM，VLSI Symposia等重要国际学术期刊和顶级国际电子器件学术峰会上，并作为第一发明人申请了多项国际专利。