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可测试性设计

可测试性设计
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汉字拆解

词语解释

可测试性设计的词语属性

拼音kě cè shì xìng shè jì
拼音字母ke ce shi xing she ji
拼音首字母kcsxsj

可测试性设计的百科含义

可测试性设计(英语:Design for Testability, DFT)是一种集成电路设计技术,它将一些特殊结构在设计阶段植入电路,以便设计完成后进行测试。

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